SEMの天板を交換 2025年3月26日 2025年3月29日 電界放出型走査電子顕微鏡(日立ハイテク SU-8030)の天板が割れていたので、新しいのに交換しました。 天板の中は空洞なので、体重をかけるとひび割れてしまいます。 新しい天板に交換して、ひび割れだけでなく色褪せもなくなりきれいになりました。 論文「アルミニウム中間層を用いた界面熱抵抗の低減によるCNTフォレストの熱伝導特性向上」Carbonに採択